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    • SurfaceSeer I 飞行时间二次离子质谱仪

      TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，它通过一次离子束脉冲轰击样品表面，层叠碰撞产生二次离子，根据二次离子飞行时间分离不同质荷比离子，对被轰击的样品表面（1-3个原子层）进行分析，能够检测包括氢在内的全部元素及其同位素的信息，并能分析化合物组分和分子构成。

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